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官宣了!!杰銳思最新光學檢測設備強勢出擊DIC EXPO 2021

來源:蘇州杰銳思智能科技股份有限公司 發布時間:2021/06/17

光學薄膜生產及應用企業福利來了!!

6月30日上海新國際博覽中心

這款產品可以幫你

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人力成本減少30%以上

檢測時間縮短50%

生產效率提升至少25%

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杰銳思AI+光學薄膜檢測方案

高精度組合光學系統

采用深度學習算法處理

360度檢測全方位成像缺陷

嵌入全自動背光組裝等智能設備

實現制程良率同比大幅度提升

最小檢測缺陷:0.0025mm2

應用于擴散膜、偏光膜、OC膜、裝飾膜

多種光學薄膜瑕疵檢測

可檢測缺陷種類高達16種以上

臟污、異物、毛絲、斑點

凹坑、凸起、斑紋、氣泡…

瑕疵

杰銳思AI瑕疵檢測技術

也廣泛應用于半導體封測、鋰電池等

多領域產品瑕疵檢測

DIC展會邀請函V4

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